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LPDDR3 interposer
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協(xié)議分析儀
DDR協(xié)議分析儀
LPDDR協(xié)議分析儀
UFS協(xié)議分析儀
NAND協(xié)議分析儀
EMMC協(xié)議分析儀
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MIPI協(xié)議分析儀
UFS4.0/3.1協(xié)議分析器和訓(xùn)練器
PCIeGen3/4協(xié)議分析儀
光通信測試儀器
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采樣示波器
光譜儀
壓力眼測試
PDL測試
基礎(chǔ)測試儀器
示波器
邏輯分析儀
信號發(fā)生器
頻譜儀
熱像儀
源表
音頻分析儀
半導(dǎo)體測試儀
半導(dǎo)體參數(shù)分析儀
半導(dǎo)體開關(guān)系統(tǒng)
PCT參數(shù)波形記錄儀
HV參數(shù)測試系統(tǒng)
測試附件
射頻線纜
連接器
測試板
其他
JTAG卡
解決方案
高速總線相關(guān)測試
汽車以太網(wǎng)測試
光通信
半導(dǎo)體及材料測試
數(shù)據(jù)采集及電源測試
技術(shù)專欄
關(guān)于千兆科
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LPDDR5 內(nèi)存接口的高效驗(yàn)證和調(diào)試
泰克LPDDR5發(fā)射機(jī)解決方案是一種自動化的系統(tǒng)級測試應(yīng)用,可讓您快速、有效和可靠地驗(yàn)證和調(diào)試 LPDDR5設(shè)計(jì),以滿足 JEDEC 定義的50多種電氣和時序測量要求。
DDR5 內(nèi)存接口的高效驗(yàn)證和調(diào)試
泰克TekExpress DDR5發(fā)射機(jī)解決方案是一種自動化的系統(tǒng)級測試應(yīng)用,可讓您快速、有效和可靠地驗(yàn)證和調(diào)試DDR5設(shè)計(jì),以滿足JEDEC定義的50多種電氣和時序測量要求。
EMMC NAND測試方案
因?yàn)锽F7264B是集邏輯分析儀與協(xié)議分析儀于一體的機(jī)器,所以BF7264B可以先用協(xié)議分析儀功能長時間監(jiān)測采集數(shù)據(jù),從而發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)錯誤。然后再用邏輯分析儀功能的協(xié)議觸發(fā)去定位采集數(shù)據(jù)錯誤的數(shù)字波形,最后確認(rèn)數(shù)據(jù)錯誤的原因。
SD及SDIO測試方案
BF7264B 是集邏輯分析儀與協(xié)議分析儀于一體的機(jī)器,目前市場上邏輯分析儀和協(xié)議分析儀都是單獨(dú)的儀器。BF7264B 的協(xié)議分析儀模式是信號進(jìn)入儀器內(nèi)部后,信號就被儀器內(nèi)部的芯片直接進(jìn)行協(xié)議解析,將解析好的文本協(xié)議數(shù)據(jù)送出來顯示。
HDMI相關(guān)測試
高清晰度多媒體接口 (HDMI) 是用于提供高清體驗(yàn)的數(shù)字視頻接口。隨著 HDMI 標(biāo)準(zhǔn)的傳輸速度提高,由于信號質(zhì)量失真而引起的互操作性問題為 HDMI 接收設(shè)備和源設(shè)備帶來了新的技術(shù)要求和測試挑戰(zhàn)。
MIPI C-PHY發(fā)射機(jī)、接收機(jī)和協(xié)議解決方案
泰克C-PHY TX Essentials、C-PHYXpress、TMPC-CPHYVIEW和Moving Pixel C-PHY協(xié)議解決方案提供了完善的一站式C-PHY解決方案,用來根據(jù) MIPI標(biāo)準(zhǔn)合規(guī)性測試和表征發(fā)射機(jī)、接收機(jī)和協(xié)議測試要求。C-PHY TX Essentials解決方案為調(diào)試和表征C-PHY數(shù)據(jù)鏈路提供了簡便的方式。C-PHY TX應(yīng)用允許根據(jù)MIPI C-PHY v1.0規(guī)范選擇電氣測量和定時測量。
M-PHY 發(fā)射機(jī)解決方案
The Tektronix M-PHY TX Essentials Test software runs on Tektronix real-time oscilloscopes that are based on Windows 7 computer operating systems.
TYPE C PD3.0數(shù)據(jù)測試分析方案
目前市場針對 Type-C 接口中的 PD3.0 數(shù)據(jù)分析的低成本方案非常少,Acute 邏輯分析儀較先支持了 PD3.0 數(shù)據(jù)的測試分析。
汽車以太網(wǎng)測試
ADAS、智能安全系統(tǒng)和人機(jī)子系統(tǒng)生成在車內(nèi)傳輸?shù)拇罅繑?shù)據(jù)。 此外,提高汽車子系統(tǒng)間集成度的要求也推動基礎(chǔ)架構(gòu)發(fā)生變化:從簡單環(huán)形網(wǎng)絡(luò)變成更復(fù)雜的拓?fù)渚W(wǎng)絡(luò),包括連接各骨干網(wǎng)絡(luò)的網(wǎng)關(guān)。
LUCEO壓力眼測試方案
IEEE和OIF要求100G接口要在壓力條件下測試光接收器,VECP、J2、J9需要達(dá)到指標(biāo)。這需對數(shù)據(jù)信號的確定性抖動DJ、隨機(jī)抖動RJ和垂直眼圖閉合進(jìn)行完整校準(zhǔn)。LUCEO的壓力眼測試系統(tǒng)提供基于協(xié)會標(biāo)準(zhǔn)的完整校準(zhǔn)壓力參數(shù)設(shè)置。
半導(dǎo)體及材料測試
半導(dǎo)體材料的突破帶來了一場技術(shù)革命,引領(lǐng)了尖端新器件的研發(fā)。3DFlash存儲器、人工智能芯片、MEMS/sensor芯片、GaN/SiC功率半導(dǎo)體器件等前所未有的應(yīng)用推動著半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。
數(shù)據(jù)采集及電源測試
數(shù)據(jù)采集(DAQ),是指從傳感器和其它待測設(shè)備等模擬和數(shù)字被測單元中自動采集非電量或者電量信號,送到上位機(jī)中進(jìn)行分析,處理。待機(jī)功耗指的是當(dāng)電子設(shè)備在其最低功率模式下運(yùn)行時所消耗的功率。
深圳市千兆科科技有限公司一直致力于將世界先進(jìn)的測試技術(shù)帶到科技的各個領(lǐng)域
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